電子 顕微鏡 大学
概要. 地下鉄（東京メトロ南北線）東大前、（東京メトロ千代田線）根津 等, ご提供頂いた個人情報は、電子顕微鏡大学の案内、テキスト等の送付に利用します。 世田谷、厚木の2キャンパスに設置。生物試料観察に適した走査型電子顕微鏡（SEM）、透過型電子顕微鏡（TEM）などが装備され、ウイルスや生物、非生物の形態観察や解析をおこない、開発研究や教育に活用しています。 電子顕微鏡の受託解析 生物系に特化し、電子顕微鏡解析を専門に受託する電子顕微鏡のスペシャリストです。 各大学や国立の研究所、医療機関はもちろん、食品、化粧品、製薬関連をはじめとする大手企業からも依頼を請け、技術開発に寄与しています。 1&2 (1974. All Rights Reserved. 透過電子顕微鏡に関する講義を行います. 3 (2003. 「講義テキスト」「受講証」は当日会場で使用しますので大切に保管し、当日ご持参下さい。, ※受講費の請求書と領収書は、受講申込完了後に再度申込ページにログインいただくとWeb上で発行いただけます。 最新の電子顕微鏡を駆使しながら細胞の超微形態解析に取り組んでいます. 電子顕微鏡室 ホームページへようこそ！ 【室主任者（問い合わせ先）】 佐々木 邦明 技術専門職員（019-621-6094、kuniaki@iwate-u.ac.jp) 装置一覧 利用方法／料金表 各種帳票類 委託業務内容 アクセス 名古屋大学では、1965年に我が国で初めて50万ボルトの電子顕微鏡が設置されて以降、世界を先導する超高圧電子顕微鏡開発研究の隆盛を見るに至りました。 電子顕微鏡 = Electron-microscopy 日本電子顕微鏡学会 日本電子顕微鏡学会, 1974-2003 Vol. E-mail: HARA.Toru@nims.go.jp, 本講義では、電子顕微鏡のハードウェアの構成要素である電子銃、照射レンズ系、結像レンズ系、偏向系/走査系、試料ホルダー、記録系、排気系、分析装置、収差補正系を説明します。内容はこれらのハードウェア動作原理を説明するとともに、それぞれの構成要素にどんな種類があるか、またどんな性能なのかを説明します。受講者の観察試料に対してどのような装置が適切であるかの指針となることを期待いたします。, ２．電子回折法 －電子回折の原理と電子回折図形から得られる構造情報－ 津田 健治（東北大学）, 電子回折の知識は電子顕微鏡像の正しい理解のために不可欠です。また、電子回折図形からは結晶学的情報が得られます。本講では、結晶学の基本的事項から始めて、逆格子と運動学回折（一回散乱）理論についてなるべくやさしく説明します。これらは電子回折図形解釈の基礎となるものです。さらに動力学的回折（多重散乱）、収束電子回折および得られる構造情報についても述べます。, 比較的厚い試料を比較的低い倍率および分解能で広いエリアにわたって観察する場合には、回折コントラストを利用した明視野法・暗視野法が威力を発揮します。この手法は、試料に埋め込まれた析出物や欠陥等の微細構造のみを浮き上がらせて結像する方法です。本講では、この方法の基本原理および実際の適用の仕方とその例を解説します。, 電子顕微鏡の分解能を原子間隔程度まで上げるためには (i)回折された波の干渉効果を用いる、(ii)電子ビームを収束する、のいずれかの手段をとる必要があります。本講義では、前者、すなわち従来から知られている高分解能電子顕微鏡（high-resolution TEM）法の基礎を解説します。幾何光学と波動光学を概観したうえで、波の干渉により得られたコントラストの意味とその限界に触れたいと思います。, 微小収束電子ビームを走査プローブとする走査型透過電子顕微鏡(STEM)法では，従来型高分解能TEM法とは異なる結像方式により，ユニークな局所構造情報の取得が可能となります．実際の解析例を交えながら，最先端STEM法の基礎を中心に講義します．, 電子線ホログラフィーは、電子線の波としての性質、すなわち電子波の位相を積極的に利用する計測手法です。そのため、「モノ」を見るだけでなく電磁場などの「物理現象」そのものを計測対象とすることができます。利用される機会はまだ多くないと思いますので、本稿では、電子の波としての振る舞いや、計測手法の原理などを中心に、基礎から応用までを紹介します。, ７．電子顕微鏡におけるEDSによる組成分析 －EDS測定の際の留意点－ 原 徹（物質・材料研究機構）, EDS（エネルギー分散型X線分光分析）はSEMでもTEMでも利用できる分析手法です。組織と対応した局所領域の組成分析が簡単にできるので多用されていますが、正しい分析のためには留意すべき点が多くあります。正しい分析を行うには、X線発生・検出・解析のそれぞれについて原理の理解が重要です。本講では、TEMとSEMのEDS分析の考え方の違いも含めて解説します。, ８．電子エネルギー損失分光法（EELS）入門 －計測・解析・解釈に役立つ基礎知識－ 木本 浩司（物質・材料研究機構）, 電子エネルギー損失分光法(Electron Energy-Loss Spectroscopy; EELS)は、入射電子と物質との非弾性散乱の結果生じた電子エネルギー損失スペクトルから、試料の組成や化学結合状態あるいは電子状態を解析する手法です。本講演では、計測に役立つハードウェアの知識や、解析・解釈時に必要になる原理の概要を、材料評価ツールとして使う立場から説明します。, ９．走査電子顕微鏡の基本と応用 －多様な機能をどう使うか－ 佐藤 馨（JFEテクノリサーチ）, 走査電子顕微鏡は、透過電子顕微鏡と比較して試料調製と操作が平易であることから表面観察の道具として普及しています．X線分析装置を付加すれば元素分析 ができ、電子後方散乱図形測定装置の装着により結晶方位解析と相の同定も可能です。講義では装置のハードウェアを簡単に説明し、二次電子と反射電子の特徴 とそれらの利用法を実例に基づき紹介します．さらに、低加速電圧や複数像検出器の活用など最新の話題にも触れます．, １０．SEMで電子線回折パターンを見る －EBSD法の原理と基礎－ 鈴木清一（TSLソリューションズ）, EBSD法は、SEM中で得た電子線回折パターンから結晶方位を求め、結晶方位に基づいた材料組織解析を行う手法として発展してきました。本講座では、そのEBSDパターンの発生原理や特徴の理解を深め、適切な材料組織解析へ繋げるために必要な基礎的な考え方等を身に着けていただくことを目指して解説します。また今日ではEBSDパターンのシミュレーション技法も進歩してきており、これと組合せEBSDパターンそのものを利用した解析事例も紹介します。, 電子顕微鏡の高機能，高性能化に伴い，最近では比較的簡単な操作で高いレベルの観察が可能となっていますが，電子顕微鏡の能力を最大限に引き出して材料情報を得るためには，目的に応じた良好な観察試料が準備されていることが重要です。本講義では，金属，半導体，セラミック材料の内部組織評価を目的とした試料作製法として，集束イオンビーム加工（FIB）やその周辺技術を中心に，試料作製の基本原理と良好な試料を作製する上での注意点などを紹介します。, 〒169-0075 東京都新宿区高田馬場1-21-13 廣池ビルディング4階2号室 TEL：03-6457-5156／FAX：03-6457-5176. 京都大学大学院医学研究科 電子顕微鏡室における研究技術支援のお知らせ 平成30年4月2日 京都大学の教職員および大学院生の皆様へ 総合解剖センター3 階西ウィングにあります電子顕微鏡室（以下「電顕室」）では、電子顕微 第三者に提供することはありません。, 申込締切り日（6月14日）までに振り込みが行われない場合、申し込みが取り消されることがありますのでご注意ください。, 開催日の1～2週間ほど前に「講義テキスト」「受講証」を送付します。 また、顕微鏡学会の各種催し物の情報提供に利用する場合があります。 分析電子顕微鏡: サブ・オングストローム 高分解能 分析透過電子顕微鏡: 透過電子顕微鏡: Titan³™ 60-300 Double Corrector （FEI-Company） Titan³™ 60-300 Probe Corrector （FEI-Company） Titan™ 80-300 Image Corrector （FEI-Company） JEM-3010 (日本電子） 現在停止中（2016/07/13) 大阪大学超高圧電子顕微鏡センターでは、文部科学省委託事業ナノテクノロジープラットフォーム・微細構造解析プラットフォーム の活動の一環として、電子顕微鏡スクール （利用者講習会 を下記のように開催します 。 地下鉄（東京メトロ丸ノ内線または都営大江戸線）本郷三丁目 研究紹介. 次回開催については，決まり次第学会ホームページ上でお知らせします。 2020年10月 クライオ電子顕微鏡施設を、 東京大学・統合報告書2020 で紹介していただきました。 2020年8月 東北大学・稲葉研究室との共同研究による 新しい論文 が出版されました。 2020年7月 技術補佐員を募集 しています。 先端イメージング研究センター. 免疫電顕標識 Immuno-Gold Labeling （領収書はお振込み後、1週間程度で発行可能になります。）, 講習の内容等に関するお問い合わせは 福岡大学医学部電子顕微鏡センター利用について 電子顕微鏡センターは電子顕微鏡に関する技術・資料等の収集および利用者への情報の提供を 行い、電子顕微鏡（周辺機器）等の取り扱い説明、試料の作製方法の指導援助等、利便性を高め 11) 大学の講義で電子顕微鏡について学んでいるときに証明が出来ない数式が出てきました。わかる方教えていただけないでしょうか。 <>は時間平均を表しており、
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